上海設(shè)備銷售中心
清空記錄
歷史記錄
取消
清空記錄
歷史記錄
瀏覽器自帶分享功能也很好用哦~
產(chǎn)品詳情
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺階孔測定斜探頭分 辨力。
產(chǎn)品詳情
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺階孔測定斜探頭分 辨力。
相關(guān)產(chǎn)品
RELATED PRODUCTS
掃一掃
公安備案號：蘇公網(wǎng)安備32021102002944號
版權(quán)所有 ? 無錫好威無損檢測設(shè)備有限公司
蘇ICP備2022024151號-1
選擇區(qū)號
瀏覽器自帶分享功能也很好用哦~
?
復(fù)制成功
×